當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 物理特性分析儀器 > 測厚儀 > 牛津CMI563表面銅厚測量儀
簡要描述:牛津CMI563表面銅厚測量儀專門設計用于剛性,柔性,單面和雙面或多層PCB板上的銅箔CMI563采用微電阻測試方法技術,提供zui有效和zui有效的方法來實現(xiàn)準確, 表面銅厚度的測量,包括覆銅層壓板,無電鍍和電解銅。
相關文章
Related Articles詳細介紹
品牌 | Hitachi/日立 | 價格區(qū)間 | 1千-5千 |
---|
CMI563牛津測厚儀
牛津儀器公司的CMI563產(chǎn)品專門設計用于剛性,柔性,單面和雙面或多層PCB板上的銅箔CMI563采用微電阻測試方法技術,提供zui有效和zui有效的方法來實現(xiàn)準確, 表面銅厚度的測量,包括覆銅層壓板,無電鍍和電解銅。 憑借市場上xian進的測試技術,印刷電路板相對側的鍍銅不會影響可靠的讀數(shù),無論層壓板厚度如何。
牛津/ CMI CMI 563
牛津儀器CMI-563測量表面銅厚度應用,以滿足印刷電路板行業(yè)的質(zhì)量控制需求。
測量剛性,柔性,單面和雙面或多層PCB上銅箔的厚度
測量箔或?qū)訅恒~厚度(mil)或μm
在進入檢驗時,在鉆孔,剪切或電鍍之前對銅重量進行排序
確定PCB上的無電鍍或電鍍銅厚度
蝕刻或平坦化后,量化銅的厚度
驗證PCB表面的鍍銅厚度
該探頭采用了Oxford Instruments專有的SRP-4微電阻技術,具有經(jīng)濟的用戶可更換測量技巧。
牛津CMI563表面銅厚測量儀特征:
牛津CMI563表面銅厚測量儀產(chǎn)品規(guī)格:
精度:參考標準,±1%(±0.1μm)
精度:無電鍍銅:0.2%標準偏差
典型電沉積銅:0.5%標準偏差
分辨率:0.01密耳> 1密耳,0.001密耳
<1密耳,0.1μm>10μm,0.01μm<10μm,0.001μm<1μm
厚度范圍:無電解銅:10μin-500μin(0.25μm-12.7μm),
電沉積銅:0.1mil至6mil(152um),
細線測量:跡線寬度8密耳至250密耳(203um-6350 um)
記憶容量:13,500讀數(shù)
尺寸:5 7/8“(L)x 3 1/8”(寬)x
1 3/16“(D)(14.9×7.94×3.02cm)
重量:9盎司(0.26公斤),包括電池
單位:英制和公制之間的自動轉(zhuǎn)換與擊鍵
電池:9V堿性
電池壽命:連續(xù)65小時
接口:RS-232串口輸出,波特率可調(diào),適用于
打印機或PC下載
顯示:四位液晶顯示,兩位數(shù)內(nèi)存位置,1/2“(1.27厘米)字符高度
統(tǒng)計顯示:讀數(shù),標準
偏差,平均,高,低
產(chǎn)品咨詢
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息