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簡要描述:激光粒度分析儀 本儀器符合但并不局限于以下標準:ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
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品牌 | 其他品牌 | 測量時間 | 20秒 |
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分辨率 | 0.01微米 | 測量范圍 | 0.1-1000微米 |
重現(xiàn)性 | 1 | 分散方式 | 濕法分散 |
價格區(qū)間 | 1萬-5萬 | 儀器種類 | 顆粒圖像分析儀 |
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),建材,紡織皮革,汽車 |
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激光粒度分析儀 ?概述:
隨著科學技術(shù)的日益進步和發(fā)展,在國民經(jīng)濟的許多部門,如能源、動力、機械、醫(yī)藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來越多的細微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問題有待解決,顆粒粒徑大小的測量是其中基本也是重要的一個方面。許多情況下,顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量,而且對工藝過程的優(yōu)化、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)。 近年來,與高新技術(shù)、國防工業(yè)、軍事科學等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料,特別是超細納米顆粒的問世和利用,給顆粒粒徑的測量提出了新的和更高的要求,不但要求快速、自動化數(shù)據(jù)處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息,以滿足科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應用的需要。TS-W系列激光粒度分析儀正是為了滿足用戶上述新要求而精心研制開發(fā)的一代激光粒度分析儀。該儀器集先進激光技術(shù)、半導體技術(shù)、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的應用,綜合了光、機、電、計算機于一體,以光散射理論為基礎(chǔ)的顆粒粒徑測量技術(shù)突出的優(yōu)點逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測量方法,必將成為一代新穎的顆粒粒徑測量儀器。并且在科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來越大的作用。
TS-W系列激光粒度分析儀的高品質(zhì)和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應用。例如:材料、化工、制藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。
激光粒度分析儀 ?技術(shù)特點:
13. 軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇,滿足用戶查找被測顆粒折射率要求;
14. 考慮到測試結(jié)果的保密要求,只有授權(quán)操作者才能進入相應數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理;
15. 本儀器符合但并不局限于以下標準:
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
技術(shù)參數(shù):
工作條件:
配置清單:
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